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N3200高压可编程直流电源在高压半导体器件测试中的应用

2020-12-10

电子行业飞速发展,对测试仪器和测试工程师的要求也不断提高。当前IC设计中超过20%的人员为测试工程师,不同的测试工程师有不同的测试习惯,不同测试场景有不同的测试需求,各类被测器件(DUT)亦有不同的测试特性。在满足测试环境多样性的同时提高测试效率,成为测试仪器的必然发展趋势。


NGI结合多年电子电路和仪器电源开发设计经验,为这些高压测试场景开发N3200系列高压可编程直流电源。N3200系列有高达10kV电压输出,其电压/电流分辨率达0.1V/0.1μA。2U½19’的机箱,既可支撑桌面应用,又有便捷的上架特性,方便系统集成,高清4.3’LCD显示屏可显示丰富的测试测量信息。



高压半导体器件的基本特性分析通常涉及击穿电压和漏电流研究。这两个参数有助于器件设计人员迅速确定器件是否制造合格以及器件在目标应用中是否能够有效使用。那么N3200系列高压电源在高压半导体器件测试中有什么样的应用优势呢?


击穿电压测量


向器件施加一个不断增加的反向电压直到达到器件击穿的某个测试电流时即可测得击穿电压。N3200系列高压电源是双极性电源,可一键输出正负电压,在施加反向电压时可减少接线程序。在测量击穿电压时,通常在与器件预期额定电压相差较远的地方进行,以确保器件的鲁棒性和可靠性。N3225-5K-M005和N3210-10K-M001型高压电源具有±5kV和±10kV的电压范围,足以提供测量高压器件击穿电压的高压测试环境。



构建安全可靠的高压测试系统


向器件施加一个不断增加的反向电压直到达到器件击穿的某个测试电流时即可测得击穿电压。N3200系列高压电源是双极性电源,可一键输出正负电压,在施加反向电压时可减少接线程序。在测量击穿电压时,通常在与器件预期额定电压相差较远的地方进行,以确保器件的鲁棒性和可靠性。N3225-5K-M005和N3210-10K-M001型高压电源具有±5kV和±10kV的电压范围,足以提供测量高压器件击穿电压的高压测试环境。


■  电压极限提醒(VLimt)功能,当设定电压值大于保护电压值时,设备将提醒超限


■  使用额定值为系统最大电压的高压插头。测试系统设计人员可以利用高压插头及高压线与待测器件(DUT)进行连接,保障使用安全。







此外在使用高压电源对待测件进行测试时,为确保操作者不会暴露在危险的电压下,必须封闭待测器件(DUT),任何外露接头都要以正确的方式接地。


高压半导体器件测试涉及测试系统安全、宽电压范围和精确电流测量等问题。利用N3200系列高压可编程直流电源及有关附件可以满足这些需求,并进一步促进高压器件、组件和半导体器件研究。

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