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N8100系列超级电容全参数测试仪

支持超级电容全参数测试

N8100A多通道充放电测试仪,提供超级电容全参数测试多种测试方法,用户可根据需要灵活选择。N8100A上位机软件支持平台化测试应用,用户可根据测试工艺和测试流程自行定制测试文件,测试结果可方便存储和导出。导出格式可支持数据库、EXCEL、JPG文件。适用于超级电容器研发、生产与品质检测。
产品具体型号检索
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型号通道数电压电流功率精度分辨率通讯接口尺寸
N8100A306V1A6W电压≤0.2%+0.2%F.S./电流≤0.2%+0.2%F.S.1.5mV/0.25mALAN3U
N8101A106V10A60W电压≤0.2%+0.2%F.S./电流≤0.2%+0.2%F.S.1.5mV/2.5mALAN3U
产品特点

       ■  恒流充电、恒流放电、恒压充电、恒压放电、循环寿命、充电容量,放电容量、DCIR、漏电流,自放电等全参数测试

       ■  采样间隔可设,最小可低于10ms,测量结果更精确

       ■  3U机框可容纳30通道,超高空间利用率

       ■  功能丰富的上位软件,支持生产分选功能

       ■  每通道对应状态指示灯,分选更方便

       ■  强大的数据存储与分析功能

       ■  百兆以太网通讯

       ■  12VDC供电

       ■  可插入N8000测控主机使用,也可独立使用

       ■  NXI槽位数:2

功能与优势

容量测量 



等效串联内阻(DCIR)测试 
      N8100主要用于生产、品质检测等快速测试场合,因此采用动态电流法(10ms脉冲法)来测试内阻,可满足绝大部分客户测试需求。 
      动态电流法直流等效内阻计算公式: 

寿命测试 
      N8100可通过重复充放电循环测试,测量超级电容在充放电过程中表征寿命特征的各项物理参数并提取其衰减曲线。通过分析参数衰减曲线,用户可获取超级电容在不同应用环境下的预计寿命、充放电周期以及在不同阶段的性能指标。寿命测试结果可用于指导材料、工艺、存储等诸多环节的改善。 

四线制测量功能 
      超级电容测试过程中需要输出较大电流,测试线将会引入较大电压降(线损),影响测量精度。N8100全系列型号均采用四线制接线方式,直接采集超级电容两端电压而避免因测试线线损带来的电压误差,从而确保测量精度。 

测试夹(治)具 
      考虑到不同规模的测试应用场景,NGI提供两种测试夹(治)具供用户选择:开尔文夹、12通道专用治具。两种测试夹(治)具均为四线制接法。 

测试软件 
(1) N8100测试软件采用平台化设计,用户可根据工艺需求自行定制测试流程。 
(2) 类Office界面风格,各通道独立显示,支持电压电流波形绘制,可以表格形式显示结果等诸多元素,使得这款专业软件在具备强大测试功能同时,兼具美观易用优点。 
(3) 设计有功率限制电路,反应时间极短,可有效保护负载不会因为过功率而损坏。 
(4) 采用全屏蔽技术,对恶劣测试环境具有广泛适应性,有效提高了负载抗干扰能力。 
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选件&配件
资料库

产品手册

用户手册

通讯协议

应用&驱动软件

产品应用资料

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